Sun创建世界上第一个大规模RFID试验设施
2006-08-22 10:49:42.0 来源：中华印刷包装网 责编：中华印刷包装网
Sun Microsystes宣布已将它的RFID试验中心和先进产品测试（APT）环境试验室整合起来了，以满足客户不断增长的需要，为客户试验各供应商的RFID、传感器解决方案的互用性是否符合要求，是否达到工业标准，是否能在现实世界极端环境下使用。为了更好与Sun APT环境试验室整合，Sun RFID试验中心已从德克萨斯搬迁到科罗拉多，提高了在酷热、严寒、冲击、潮湿、振动、高度和压力等不利环境条件下测试RFID和传感器解决方案的能力。该RFID试验中心在世界上率先将以环境为重点的大规模测试与综合互用性和标准检测相结合。
世界各地的公司已使用Sun RFID试验中心模拟部署过许多RFID和传感器系统，以检验解决方案的互用性以及是否符合工业技术标准要求。Sun APT实验室的客户除了Coors公司外，还有百事、惠普、Eeagate、Maxtor和Ball Aerospace。Sun RFID中心已为几千个客户进行了试验，包括Coors、Goodyear和Clorox。
【我要印】印刷厂与需方印务对接，海量印刷订单供您任意选择。
【cpp114】印刷机械、零配件供求信息对接，让客户方便找到您。- 【我的耗材】采购低于市场价5%-20%的印刷耗材，为您节省成本。
- 【印东印西】全国领先的印刷品网上采购商城,让印刷不花钱。
- 关于我们|联系方式|诚聘英才|帮助中心|意见反馈|版权声明|媒体秀|渠道代理
- 沪ICP备18018458号-3法律支持:上海市富兰德林律师事务所
- Copyright © 2019上海印搜文化传媒股份有限公司 电话：18816622098
